到貨型號(hào)：
JIMA分辨測(cè)試卡RC-05B！
4月深圳倉(cāng)庫(kù)到貨，歡迎咨詢！
客戶4月初詢價(jià)該產(chǎn)品，經(jīng)過議價(jià)對(duì)比價(jià)格后，4月中已下單，并簽訂正式合同訂貨。
4月初到貨深圳倉(cāng)庫(kù)后，倉(cāng)庫(kù)負(fù)責(zé)人王工對(duì)產(chǎn)品驗(yàn)收合格后辦理入庫(kù)，已經(jīng)發(fā)往天津的客戶了。
JIMA 分辨測(cè)試卡 RC-05B 具有以下性能特點(diǎn)1：
高分辨率支持：采用新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作，能支持 3 微米至 50 微米（3µm 至 50µm）的分辨率，對(duì)應(yīng) 6 微米和 100 微米（6µm 和 100µm）之間的焦斑尺寸，可滿足微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn) X 射線檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)高精度分辨率校準(zhǔn)和監(jiān)控的需求。
多種狹縫尺寸：狹縫尺寸包括 3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米，共 16 種規(guī)格，可全面覆蓋不同分辨率檢測(cè)場(chǎng)景，精確測(cè)量系統(tǒng)在各種尺度下的分辨率表現(xiàn)。
特定吸收材料與布局：吸收材料為厚度大于 1.0µm 的金（Au），Slit 的數(shù)量為 3 行和 2 個(gè)空格，這種設(shè)計(jì)有助于在 X 射線檢測(cè)中形成清晰的線條圖案，便于觀察和分析系統(tǒng)對(duì)不同寬度線條的分辨能力，從而準(zhǔn)確評(píng)估系統(tǒng)性能。
小巧的外形尺寸：通常芯片尺寸較小，例如可能采用 2x2mm、8x8mm 硅基等不同布局方式，方便在各種 X 射線檢測(cè)設(shè)備中靈活放置和使用，適應(yīng)不同的檢測(cè)空間和光路設(shè)置。
該測(cè)試卡主要用于校準(zhǔn)和監(jiān)控 X 射線檢測(cè)系統(tǒng)的分辨率，通過將其放置在 X 射線管前，利用操縱器移動(dòng)測(cè)試圖，觀察不同狹縫尺寸的線條圖案，只要線條清晰可見，就可繼續(xù)測(cè)試，進(jìn)而近似計(jì)算焦點(diǎn)大小（小分辨率乘以 2），以確保 X 射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)下能獲得高質(zhì)量的圖像結(jié)果
電子郵箱：17375971654@163.com
公司地址：龍華街道龍華大道906號(hào)電商集團(tuán)7層
