SQX分析配備*的自動(dòng)判斷功能

SQX分析是利用定性分析結(jié)果進(jìn)行定量分析的無(wú)標(biāo)準(zhǔn)FP分析。

?評(píng)估重元素產(chǎn)生的高次譜線的影響，自動(dòng)選擇最佳測(cè)量條件，實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的SQX分析
?新增恒定角度測(cè)量設(shè)置模式，可在EZ掃描中檢測(cè)微量元素
?EZ配備超高速需要不到 2 分鐘測(cè)量時(shí)間的掃描模式
- 支持多層薄膜樣品的篩選分析
- 任何樣品薄膜都可以添加樣品薄膜校正
- SQX 散射線 FP 分析（針對(duì)粉末和聚合物）現(xiàn)在直徑為 30 毫米兼容
- 重新計(jì)算 SQX 時(shí)可以更改為 SQX 散射線 FP 分析

氦氣氣氛快速置換

通過(guò)在樣品室和光譜室之間添加真空隔板，可以縮短更換氦氣氛所需的時(shí)間。此外，通過(guò)增加液體樣品保持器檢測(cè)機(jī)構(gòu)，將液體樣品引入真空氣氛中不會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤，并且可以放心地進(jìn)行測(cè)量。

用于輕元素的氣體保護(hù)正比計(jì)數(shù)器 S-PC LE

氣體保護(hù)型檢測(cè)器在分析過(guò)程中產(chǎn)生零氣體排放。 探測(cè)器無(wú)需安裝氣瓶。

使用 WDX 系統(tǒng)進(jìn)行點(diǎn)/映射分析

通過(guò)采用r-θ驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，X射線強(qiáng)度不會(huì)因測(cè)量點(diǎn)而變化，并且映射位置分辨率為100μm，可以分析印刷電路板上的布線等微小部件，各種材料中的夾雜物是。