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產(chǎn)品型號:XPR226CDR/AC
廠商性質(zhì):代理商
更新時間:2025-10-09
訪 問 量:367
產(chǎn)品分類
CLASSIFICATION
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詳細介紹
玉崎科學METTLER梅特勒 進口原裝電子天平
玉崎科學METTLER梅特勒 進口原裝電子天平
確保一次性稱量準確
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協(xié)同作用,確保滿足正確稱量的所有相關(guān)條件。
StaticDetect靜電檢測
由于具備StaticDetect靜電檢測功能,XPR微量分析天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電荷。
隨時可進行審核
將XPR分析天平連接至LabX軟件,為法規(guī)遵從和數(shù)據(jù)完整性提供全面支持。
| 最大秤量 | 220 g/121 g |
| 可讀性 | 0.01 mg 0.005 mg |
| 重復性(典型) | 0.004 mg |
| 最小稱量值(符合USP,允差為0.1%,典型) | 8 mg |
| 穩(wěn)定時間 | 5 s |
| 校正 | 內(nèi)部(全自動/FACT) |
| 接口 | USB-B(連接至設備) RS232(集成式/選件) USB-A(連接至設備) 藍牙(可選) 以太網(wǎng) (LAN) |
| 用戶管理 | 密碼保護 用戶權(quán)限 用戶數(shù)量不受限制 |
| 認證 | 是 |
| 秤盤尺寸 (寬x深) | 73 mm x 78 mm |
| 線性誤差(典型)± | 0.1 mg |
| 外形尺寸 (高x寬x深) | 292 mm x 195 mm x 485 mm |
| 文檔選項 | 打印 基本電子文檔 自動文檔記錄(符合21 CFR第11部分的規(guī)定) |
| 合規(guī)性選項 | 數(shù)據(jù)完整性 日志歷史(符合21 CFR第11部分的規(guī)定) 密碼保護 稱量日志 日志歷史(基本元數(shù)據(jù)) |
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