色吧综合网,亚洲欧洲美洲精品va毛片 ,人妻激情偷乱视频一区二区三区,欧美级区二区中文字幕

全國服務咨詢熱線:

0755-26803456

當前位置：首頁  >  產品中心  >  Rigaku理學  >  半導體測量設備  >  XHEMIS TX-3000半導體設備理學Rigaku反射熒光X射線光譜儀

半導體設備理學Rigaku反射熒光X射線光譜儀
簡要描述：

半導體設備XHEMIS TX-3000理學Rigaku反射熒光X射線光譜儀
半導體設備理學Rigaku反射熒光X射線光譜儀

TXRF光譜儀
超快速金屬污染測繪

兼容最大 300mm 晶圓

  • 產品型號：XHEMIS TX-3000
  • 廠商性質：代理商
  • 更新時間：2024-09-29
  • 訪  問  量：157

詳細介紹

半導體設備理學Rigaku反射熒光X射線光譜儀

半導體設備理學Rigaku反射熒光X射線光譜儀


XHEMIS TX-3000 概述

典型元素的檢測限 (LLD)

檢測限LLD（E10原子/cm2）鋁鐵鎳銅
發(fā)射光譜140.060.060.09

測量時間：1000秒  


XHEMIS TX-3000 規(guī)格

方法全內反射X射線熒光分析（TXRF）
目的快速無損測量痕量元素表面污染（Na - U）
將繪圖速度提高約 3 倍
E9 原子/cm2 的檢測極限
技術高靈敏度金屬污染分析
主要部件3 探測器配置
高功率 W 對陰極 X 射線源（9 kW 旋轉對陰極）
針對輕元素、過渡元素和重元素優(yōu)化的 3 種激發(fā)能量
XYθ 樣品臺
2 個 FOUP 裝載端口
特征全晶圓映射 (SWEEPING-TXRF)、零邊緣排除 (ZEE-TXRF)
選項背面分析 (BAC-TXRF)、GEM300 軟件、E84/OHT 支持
機身尺寸1280（寬）×3750（深）×2040（高）
（不含監(jiān)視器和信號塔）
測量結果定量結果、光譜圖、彩色等高線圖、映射表




























特別提示：商品詳情頁中（含主圖）以文字或者圖片形式標注的搶購價等價格可能是在特定活動時段下的價格，商品的具體價格以訂單結算頁價格為準或者是您與商家聯系后協商達成的實際成交價格為準；如您發(fā)現活動商品價格或活動信息有異常，建議購買前先咨詢商家。


產品咨詢

留言框

  • 產品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯系電話：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細地址：

  • 補充說明：

  • 驗證碼：

    請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7

全國統(tǒng)一服務電話

19270095986

電子郵箱：209023083@qq.com

公司地址：龍華街道龍華大道906號電商集團7層

掃碼加微信