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大塚電子ELSZneoSE粒度測量系統(tǒng)陶瓷色料半導體領域 大塚電子粒度測量系統(tǒng)陶瓷色料半導體領域 特征 可根據(jù)應用添加功能（分子量測量、顆粒濃度測量、微流變測量、凝膠網(wǎng)絡結構分析、粒徑多角度測量）。 使用標準流通池連續(xù)測量粒徑和 zeta 電位 能夠測量從稀溶液到濃溶液 (~40%) 的各種濃度的顆粒尺寸和 zeta 電位 可以在高鹽濃度下測量扁平樣品的 Zeta 電位。 可在 0 至 90℃

現(xiàn)貨OTSUKA大塚電子界達電位粒徑ELSZneo分析儀 現(xiàn)貨OTSUKA大塚電子界達電位粒徑分析儀 [ELSZneo 將光散射物理性質評估 　　　　推向新階段] 這 是 ELSZ 系列的頂級型號，除了測量稀溶液到濃溶液中的 Zeta 電位和粒徑之外，還能夠測量分子量。 作為一項新功能，我們采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還可以進行顆粒濃度測量、微觀流變測量和凝膠網(wǎng)絡結構分析。 新型